本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試,尤其涉及一種基于擇優(yōu)迭代反饋的單元測(cè)試用例自動(dòng)生成方法及裝置。背景技術(shù)、半導(dǎo)體集成電路制造是現(xiàn)代信息產(chǎn)業(yè)的基石,其制造過(guò)程涉及數(shù)百道精密工藝步驟,對(duì)生產(chǎn)自動(dòng)化與智能化水平提出了極高要求。制造執(zhí)行系統(tǒng)作為半導(dǎo)體晶圓廠的生產(chǎn)中樞,負(fù)責(zé)生產(chǎn)調(diào)度、設(shè)備監(jiān)控、物料追蹤、質(zhì)量分析等核心業(yè)務(wù)...